可即刻運行的 Agilent ICP MS 7800系列 結(jié)合成熟、穩(wěn)定的硬件配置、自動優(yōu)化工具與預(yù)設(shè)方法簡化常規(guī)分析。硬件具有高基體耐受能力、寬動態(tài)范圍并能對多原子干擾進行有效控制，可消除復(fù)雜多變的樣品基體帶來的不確定性。7800 ICP-MS 極易設(shè)置和使用，因此您可以快速獲得多種樣品類型的可靠結(jié)果。

Agilent ICP MS 7800系列 產(chǎn)品特性：

● 快速提高常規(guī)金屬分析效率 — ICP-MS MassHunter 軟件包含預(yù)定義設(shè)置的可簡便加載和運行的預(yù)設(shè)方法，預(yù)定義設(shè)置涉及從等離子體條件到分析物積分時間及內(nèi)標(biāo)。對于新方法，方法向?qū)⒏鶕?jù)樣品類型和應(yīng)用建立方法。了解關(guān)于飲用水、環(huán)境廢棄物和制藥產(chǎn)品解決方案中元素雜質(zhì)的更多信息。

● 減少樣品前處理 — 7800 ICP-MS 標(biāo)配*的耐高鹽進樣 (HMI) 技術(shù)，無需稀釋即可分析總?cè)芙夤腆w (TDS) 含量高達 3% 的樣品，減少了樣品前處理并節(jié)省了時間。 

● 最大限度減小信號抑制 — HMI 能減少信號抑制，因此可以準(zhǔn)確測定高基體樣品而無需標(biāo)樣的基體匹配。

● 有效去除干擾，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性 — 氦氣 (He) 碰撞模式可在同一套質(zhì)譜條件下去除所有多原子離子干擾，簡化了方法開發(fā)與日常操作。He 模式無需基體特異性或分析物特異性反應(yīng)池條件。 

● 在一次運行中同時分析常量和痕量元素 — 寬動態(tài)范圍正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 可在一次運行中實現(xiàn)常量元素（數(shù)百或數(shù)千 ppm）與痕量元素（ppt 或亞 ppt 級）的直接分析。較高的上限濃度可減少由超量程結(jié)果造成的樣品再運行。

● 提高通量和分析效率 — 可選的集成式進樣系統(tǒng) (ISIS 3) 和 SPS 4 自動進樣器可在不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量的前提下降低每個樣品的分析成本。